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- Workshop
Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2019)
24. - 26. Februar 2019 | Prien am Chiemsee
Programmkomitee
Tagungsleitung
- Jürgen Alt, Intel Deutschland GmbH
Wissenschaftliche Tagungsleitung
- Stephan Eggersglüß, Mentor, A Siemens Business
Mitglieder des Programmkomitees
- J. Alt, Intel Deutschland GmbH
- B. Becker, Universität Freiburg
- R. Drechsler, Universität Bremen und DFKI
- S. Eggersglüß, Mentor, A Siemens Business
- P. Engelke, Infineon Technologies AG
- G. Fey, Technische Universität Hamburg
- M. Fischer, Advantest GmbH
- M. Gössel, Universität Potsdam
- S. Hellebrand, Universität Paderborn
- K. Hofmann, Technische Universität Darmstadt
- S. Holst, Kyushu Institute of Technology
- W. Hoppe, Rheinmetall AG
- F. Hopsch, Fraunhofer IIS EAS Dresden
- R. Krenz-Baath, Hochschule Hamm-Lippstadt
- M. Krstic, Universität Potsdam und IHP GmbH
- A. Mayer, Infineon Technologies AG
- N. Nebel, Robert Bosch GmbH
- V. Petrovic, Robert Bosch GmbH
- I. Polian, Universität Stuttgart
- F. Pöhl, Intel Deutschland GmbH
- S. Sattler, Universität Erlangen-Nürnberg
- M. Sauer, Advantest GmbH
- M. Schillinsky, NXP Semiconductors Germany GmbH
- J. Schlöffel, Mentor, A Siemens Business
- M. Schölzel, Universität Potsdam und IHP GmbH
- J. Sepulveda, Technische Universität München
- D. Tille, Infineon Technologies AG
- M. Wahl, Universität Siegen
- H.-J. Wunderlich, Universität Stuttgart
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